SN74BCT8240ADW参数：IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
类别：集成电路 (IC)-逻辑 - 专用逻辑标准包装：25系列：74BCT包装：管件逻辑类型：扫描测试设备，带反相缓冲器电源电压：4.5 V ~ 5.5 V位数：8工作温度：0°C ~ 70°C安装类型：表面贴装封装：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）供应商器件封装：24-SOIC
